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非接触半绝缘SiC电阻率测定仪

简要描述:非接触半绝缘SiC电阻率测定仪主要通过四探针法测试单晶硅电阻率,具有自动定位的三坐标自动测量系统,可以自由设置测量点数量,自动测试完成,可以对测试出的数据进行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。

  • 产品型号:GEST-201
  • 厂商性质:其他
  • 更新时间:2022-11-16
  • 访  问  量:313
详情介绍

产品名称:全自动晶圆成像电阻率测试仪

一、产品概述

仪器采用了*电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

二、仪器构成:

1、 高精度电阻率测试仪

3、 测试探头

高精度电阻率测量仪:

1.1电阻率:0.00001~20000Ω.cm (可扩展)

1.3电阻:0.00001~20000Ω.cm;

2.1量程0.01mV-2000 mV

2.3 精度:±0.1% ;

3、恒流源:

3.2电流误差:±0.5%

三坐标测试移动品台:

2、X轴Y轴*小位移量:0.125MM

四探针测试电极:

上位机软件测量成像系统

2、 测量点数:可以设定

4、 2D成像:测试完成后,可以立体成像

 

 

 

 

按目前国际上的经验,建议此值但是,如果对某一等级绝缘子进行了较大数量的试验(超过10次),则可以算出处的真实值并用来确定96h耐受值。为了检验强度曲线的斜率不超过每时间对数刻度8%Mw,取平均96h破坏负荷(M96)至少等于0.7Mg就足够。因而相应于试验通过概率为90%的96h耐受负荷可以从高斯分布算得,本试验的目的是检验绝缘子的额定机械负荷,同时考虑负荷的累积效应。为此首先施加0.7倍额定机械负荷,持续96h,然后施加额定机械负荷持续1min。选取0.7倍额定机械负荷值进行96h耐受试验,是因为它对应于已由设计试验检验过的绝缘强子强度一时间曲线的保证斜率每时间对数刻度8%(见A.2.2)。用户可利用从本试验得到的信息来校核绝缘子机械耐受特性是否位于线路预期负荷之上。

在线路的寿命期内,作用在绝缘子上的负荷可以初步近似地由类似于复合绝缘子机械强度-时间曲线的形式用一直线来表示。度来绘出。常规机械负荷代表了在无冰的情况下,导线、金具、间隔棒等组成的绝缘子悬垂组重量或是耐张组中导线的拉伸负荷,并考虑到常见的温度和常见的风速。这个负荷和相应的温度应由用户根据普遍的运行条件来确定。超常规机械负荷是指整套装置预计在整个寿命期内总计长持续期间为一周的负荷

 

 

 

 

非接触半绝缘SiC电阻率测定仪

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