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新款GEST系列半导体橡胶电阻率测试仪

新款GEST系列半导体橡胶电阻率测试仪

型    号: GEST-125A
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新款GEST系列半导体橡胶电阻率测试仪用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻

GEST-125A新款GEST系列半导体橡胶电阻率测试仪的详细资料:

半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品名称:半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品型号:GEST-125

满足标准:

GB_T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分:半导电橡塑材料体积电阻率试验

GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法

GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法

GB/T2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定

产品概述:

半导电橡塑电阻测试仪主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻,也可使用四端子测试夹,对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源,测量结果采用LED数字直接显示,分为3个窗口:电压显示窗口,材料厚度显示窗口(用户根据实测输入),电阻率显示窗口。

    仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和*标准的要求。

仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门,对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测,是必需的测试设备。

 仪器主要技术指标:

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 数字电压表:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

1、电极材质:测试电极-黄铜,支架-不锈钢

2、电极与试样接触宽度:5mm

3、电极与试样接触压力:0.6N

五、试样要求:

1、试样宽度:(10±0.2)mm; 长度:(70-150)mm;推荐厚度:(3-4)mm,试样任何一点的厚度余平均值的差不得大于5%。

2、试样数量:3个

六、电源要求:

1、220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

 

半导电橡塑材料电阻测试架

本测试架有以下特点:

1、  技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。

2、   技术*工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。

3、 操作简单,使用方便,寿命长。

 

对管状试样而言,合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下,电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成,外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样,外表面可加三条箔带或沉积金属带,中间一条用作为外电极(测量电极),两端各有一条用作保护电极。内电极可用,沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样,其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全度上,可以不用保护电极,大直径的管状或圆筒形试样,其电极系统可以是圆形或矩形的搭接,并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待,金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。

使偏差在±(0.2%±0.005mm)以内,测量点应均匀地分布在试样表面.必要时,应测其有效面积。条件处理应按相关规范规定进行。电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行,在1MHz或更高频率下,必须减小接线的电感对测量结果的影响.此时,可采用同轴接线系统(见图1所示),当用变电抗法测量时,应提供一个固定微调电容器。试样加有保护电极时其相对电容率勺可按公式(1)计算,没有保护电极时试样的被测电容C;相对电容率;没有保护电极时试样的电容;G——边缘电容;Co——法向极间电容;G和G能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。

测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表表3中相应的公式计算得来。介质损耗因数也海按照所用的测量装置给定的公式,根据测出的数值来计算。在第5章和附录A中所规定的精度是:电容率精度为±1%,介质损耗因数的精度为士(5%士0.0005)。这些精度至少取决于三个因素:即电容和介质损耗因数的实测精度;在较低频率下,电容的测量精度能达士(0.1%±0.02pF),介质损耗因数的测量精度能达±(2%士0.o在较高频率下,其误差增大,对于带有保护电极的试样,其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几,而校正只能计算到其本身值的百分乏几。

如果试样厚度的测量能精确到土0.005mm,则对平均厚度为1.6mm的试样,其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到士0」%的精度,但它是以平方的形式引入误差的,综合这些因素,极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。对表面加有电极的试样的电容,若采用测微计电极测量时,只要试样直径比测微计电极足够小,则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时,边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差,因为它们的误差都可达到试样电容的2%〜40%。根据目前有关这些电容资料,计算边缘电容的误差为10%,计算对地电容的误差为25%。因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时,对地电容误差可大大减小。

 

 

 

 

新款GEST系列半导体橡胶电阻率测试仪

新款GEST系列半导体橡胶电阻率测试仪