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新款GEST系列半导电体积电阻率测试仪

新款GEST系列半导电体积电阻率测试仪

型    号: GEST-125A
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新款GEST系列半导电体积电阻率测试仪用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻

GEST-125A新款GEST系列半导电体积电阻率测试仪的详细资料:

半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品名称:半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品型号:GEST-125

满足标准:

GB_T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分:半导电橡塑材料体积电阻率试验

GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法

GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法

GB/T2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定

产品概述:

半导电橡塑电阻测试仪主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻,也可使用四端子测试夹,对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源,测量结果采用LED数字直接显示,分为3个窗口:电压显示窗口,材料厚度显示窗口(用户根据实测输入),电阻率显示窗口。

    仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和*标准的要求。

仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门,对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测,是必需的测试设备。

 仪器主要技术指标:

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 数字电压表:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

1、电极材质:测试电极-黄铜,支架-不锈钢

2、电极与试样接触宽度:5mm

3、电极与试样接触压力:0.6N

五、试样要求:

1、试样宽度:(10±0.2)mm; 长度:(70-150)mm;推荐厚度:(3-4)mm,试样任何一点的厚度余平均值的差不得大于5%。

2、试样数量:3个

六、电源要求:

1、220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

 

半导电橡塑材料电阻测试架

本测试架有以下特点:

1、  技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。

2、   技术*工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。

3、 操作简单,使用方便,寿命长。

 

对管状试样而言,合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下,电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成,外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样,外表面可加三条箔带或沉积金属带,中间一条用作为外电极(测量电极),两端各有一条用作保护电极。内电极可用,沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样,其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全度上,可以不用保护电极,大直径的管状或圆筒形试样,其电极系统可以是圆形或矩形的搭接,并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待,金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。

采用测微计电极时,数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的士0.数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的士o介质损耗因数的范围通常是0.0001^0.1,但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时,有可能检测出0.的介质损耗因数‘1〜5的相对电容率可测到其真值的±2%,该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制,也受到测微计电极系统误差的限制。绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况);试样条件处理的方法和处理时间;电极装置类型,若有加在试样上的电极应注明其类型;测量仪器;试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;

施加的电压;施加的频率;试验日期;相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角,必要时,(单位;P=dlb)上下电极相等,若一丄石内+冶f1。In——自然对数;也一…常用对数,AC——取去试样后,G——在距离为r时,G——取去试样后,恢复平衡,测微计电极间距为S时的标定电容財8——'测微计电极之间试样所占据的,间距分别为r或儿的空气电容。CP-Cs-G+COf试样直径至少比测微计电极的直径小2丄在计算电容率时,当试样与电极的直径同样大小时,仅存在亠个微小的误差(因电极边缘电场畸变引起0.2%〜0.5%的误差),因而可以避免空气电容的两次计算。C?=AC+Cob试样直径等于测微计电极直径。

施于试样上的电极的厚度为零。G仅有流体时的电容,G——所考虑的区域上的真空电容,A—试样一个面的面积,△也澎——试样插入时,注:在二流体法的公式中,脚注1和2分别表示*种和第二种流体。若么调到一个新值矿,((Cf+厶t奁n,当试样的损耗因数小于S1时,6——硼硅酸盐或石英垫圈。41mm或2mm的间隙;5——温度计插孔。西林电桥是测量电容率和介质损耗因数的经典的装置.它可使用从低于工频(50Hz〜60Hz)直至100kHz的频率范围,通常测定50pF〜1000pF的电容(试样或被试设备通常所具有的电容)。这是一个四臂回路(图A.l)o其中两个臂主要是电容(未知电容役和一个无损耗电容另外两臂(通常称之为测量臂)由无感电阻R和R组成

 

 

 

新款GEST系列半导电体积电阻率测试仪

新款GEST系列半导电体积电阻率测试仪