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电学性能检测仪器

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粉末电阻仪

粉末电阻仪

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粉末电阻仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的仪器.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

粉末电阻仪的详细资料:

产品概述:

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

 

仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业

 仪器主要技术指标:

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-6—105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出: 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、电阻值

 

调节张力至1.0MPa±0.2MPa(以薄膜的标称厚度和宽度计算)。在薄膜出现小凹陷且平行于薄膜边缘的一条直线上用自粘性标签作两个标记(相距1000mm和1100mm之间),用钢直尺测量两标记之间的距离,b)以钢直尺为基准,薄膜每一边都是直的(偏差在0.5mm以内);c)以钢直尺为基准,任一点的凹陷不超过7.5mm。用钢直尺测量在此张力下两参考标记之间的距离,以薄膜的伸长占两标记间起始距离的百分数表示。凹陷和偏移/弧形的总值以三次测量值的中值表示,并报告另两个值。薄膜经粗化后,形成微小的凹凸不平的表面,利用仪器的触针(或探头)在薄膜表面上移动,从而测出薄膜的平面粗糙度Rz。能满足薄膜试样的平均粗糙度测试范围及精度要求的表面粗楂度测试仪器的均可使用。

误差不大于士10%。b)少许及端部包有脱脂棉花的棉签。从样品上纵、横向各取三块试样,其尺寸以能完全覆盖与仪器配套的测试小平面为准。试样表面必须洁净,无损伤、折皱。用棉签醪上丙爾清洗仪器的测试平面。将试样放在仪器的测试平面上,试样要完全贴紧平面,无气泡存在。试样的被测面朝向测试触针,读出三块试样纵、横向六个Re的数值。薄膜的表面粗糙度以三个试样的六个Ra的算术平均值表示,按GB/T10006—1988的规定。表面张力逐渐增加的一系列有机混合液滴,当它们达到一定浓度时,具有对薄膜表面湿润的能力

 

 

 

粉末电阻仪

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