新款压汞法试验仪

一、测试原理：

压汞法孔隙度测试分析技术是基于在精确控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精确及分析范围广等优点外，压汞仪还可得到样品众多特性，例如：孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度（堆积密度和骨架密度）。

孔隙度通常包括材料孔径、孔体积、孔径分布、密度和其他孔隙度相关特性的测量。孔隙度对于了解物质组成、结构和应用是非常重要的。材料的孔隙度影响其物理属性从而影响其在周围环境下的行为，影响材料的吸附性和渗透性、强度、密度和其他性质。

二、性能参数：

1. 孔直径测试范围：30nm至600μm ；

2. 孔隙体积测试范围：0.3-3.5cc ；

3. 测量精度：≤ 0.5% ;

4. 分析站：1个独立样品分析站，样品室*体积15cc ；

5. 工作压力范围：0.01-50Mpa，采用双路压力测量技术 ；

6. 试验压力：60Mpa ；

7. 静压力头: ≤20mmHg ；

8. 空白值: 50Mpa时约0.25ml ；

9. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 ；

10. 真空泵：双极机械真空泵，极限真空度0.05Pa ；

11. 分析模型：累计总孔体积、累计比表面积、平均孔径、孔径分布（孔隙度）曲线、孔喉比、注汞/退汞曲线等等；

12. 样品类型：固体颗粒样品或块状固体样品；

三、产品特点：

GCGY200型压汞仪主要由真空系统样品室系统、加压系统、测量控制系统四部分组成。

1. 真空系统：主要是由一台双级泵和真空传感器组成，极限真空度为 0.05Pa；

2. 样品室系统：耐高压、耐真空，空白值小，测量精度高，稳定性强。利用重力差原理，在正压环境下进行压力测量技术，方便、适用，保证了整个试验的连续性、稳定性、可靠性和完整性。

3. 加压系统：可为测试过程提供0-50Mpa（7250psi）压力，可无级调速控制泵速度的快慢及加退压。

4. 测量控制系统：由压力测量、电容测量、真空测量三部分组成。压力测量由两路压力变送器和数字压力表来完成压力的计量。电容测量是由电容仪电容变送器和数字显示器来完成。真空测量是由真空硅利用热偶原理实现对样品室内真空度的测量。

5. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 。

5.1.4

除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外,取样前，除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外,试验应在温度23°C±2C、相对湿度50%±5%、环境洁净度不大于10000级的条件下进行。厚度应按产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。根据ISO1993,用精密千分尺或立式光学计或其他仪器测量单张试样的厚度。薄膜厚度小于100jum时,用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm〜50mm的球面测帽。测量压力为0.5N〜1N。薄膜厚度大于或等于100jum时，可用千分尺测量。薄膜厚度小于15/xm时，精度不低于0.2卩m；薄膜厚度大于或等于15mm但小于100时。

精度不低于1卩m；薄膜厚度大于或等于100/zm时，精度不低于2卩m。沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜（当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条），试样不应有皱折或其他缺陷。按ISO1993的要求，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量27点，两测量点间距不少于50mm。对未切边的膜卷,测量点应离薄膜边缘50mm,对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。取27个测量值的中值作为试验结果，并报告大值和小值。薄膜叠层试样的数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成。其制备方法如下:从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取，并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板（推荐尺寸为：250mmX200mm,其中200mm为板的长度方向尺寸）

新款压汞法试验仪

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