新款压汞法测定仪

一、测试原理：

压汞法孔隙度测试分析技术是基于在精确控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精确及分析范围广等优点外，压汞仪还可得到样品众多特性，例如：孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度（堆积密度和骨架密度）。

孔隙度通常包括材料孔径、孔体积、孔径分布、密度和其他孔隙度相关特性的测量。孔隙度对于了解物质组成、结构和应用是非常重要的。材料的孔隙度影响其物理属性从而影响其在周围环境下的行为，影响材料的吸附性和渗透性、强度、密度和其他性质。

二、性能参数：

1. 孔直径测试范围：30nm至600μm ；

2. 孔隙体积测试范围：0.3-3.5cc ；

3. 测量精度：≤ 0.5% ;

4. 分析站：1个独立样品分析站，样品室*体积15cc ；

5. 工作压力范围：0.01-50Mpa，采用双路压力测量技术 ；

6. 试验压力：60Mpa ；

7. 静压力头: ≤20mmHg ；

8. 空白值: 50Mpa时约0.25ml ；

9. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 ；

10. 真空泵：双极机械真空泵，极限真空度0.05Pa ；

11. 分析模型：累计总孔体积、累计比表面积、平均孔径、孔径分布（孔隙度）曲线、孔喉比、注汞/退汞曲线等等；

12. 样品类型：固体颗粒样品或块状固体样品；

三、产品特点：

GCGY200型压汞仪主要由真空系统样品室系统、加压系统、测量控制系统四部分组成。

1. 真空系统：主要是由一台双级泵和真空传感器组成，极限真空度为 0.05Pa；

2. 样品室系统：耐高压、耐真空，空白值小，测量精度高，稳定性强。利用重力差原理，在正压环境下进行压力测量技术，方便、适用，保证了整个试验的连续性、稳定性、可靠性和完整性。

3. 加压系统：可为测试过程提供0-50Mpa（7250psi）压力，可无级调速控制泵速度的快慢及加退压。

4. 测量控制系统：由压力测量、电容测量、真空测量三部分组成。压力测量由两路压力变送器和数字压力表来完成压力的计量。电容测量是由电容仪电容变送器和数字显示器来完成。真空测量是由真空硅利用热偶原理实现对样品室内真空度的测量。

5. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 。

使薄膜卷的轴线与上方的金属辗平行（不平行度为1°以内），且薄膜的横向位置可随意调节，放卷时张力可调。在机架的另一端从第二辗子自由悬挂下来的薄膜上装一重物或弹簧夹，为了测量沿两辗中间的一条直线薄膜低于两辗平面的距离，需要一把长的钢直尺（长度在mm以上）和刻度为1mm的钢板尺。也可采用其他装置，自动或半自动记录薄膜的位置。剥去膜卷外三层薄膜。取一段约2m长的薄膜作为一个试样，共取三个试样。取样时应缓慢放卷，将薄膜试样放在设备的两辗子上，把薄膜的自由端夹于张力装置中，调节张力至产品标准中规定值。当薄膜经过第二辗子时要调节薄膜的横向位置，使薄膜在两報中间近似为水平。将长钢直尺放在两平行辐上，用钢板尺测量长钢直尺与薄膜大距离。

准确至1mm（见图3）,作为该次试验的凹陷值，或用其他合适的装置进行测量。另用两个试样重复上述过程。取三次测定的中值作为试验结果，并报告另两个值,结果取两位有效数字，单位为毫米（mm）。2―试样。—伸长范围；3―直边位置。用一次测量来评定凹陷和偏移/弧形的总值。放出一段薄膜，在规定条件下放置在二个平行辗上，使薄膜的纵向与辗轴垂直,张紧薄膜直至无可见的凹陷和偏移/弧形，测定这种状态下薄膜的伸长。同7.2.2.1。合适的自粘性标签。剥去膜卷外三层薄膜，取一段约2m长的薄膜作为一个试样,共取二个试样，将薄膜试样放置在设备的两報子上，用手轻拉薄膜，移动薄膜的自由端，使在辐子之间的薄膜尽可能地平，然后把自由端夹在张紧装置中

新款压汞法测定仪

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