新款全自动压汞法测定仪

一、测试原理：

压汞法孔隙度测试分析技术是基于在精确控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精确及分析范围广等优点外，压汞仪还可得到样品众多特性，例如：孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度（堆积密度和骨架密度）。

孔隙度通常包括材料孔径、孔体积、孔径分布、密度和其他孔隙度相关特性的测量。孔隙度对于了解物质组成、结构和应用是非常重要的。材料的孔隙度影响其物理属性从而影响其在周围环境下的行为，影响材料的吸附性和渗透性、强度、密度和其他性质。

二、性能参数：

1. 孔直径测试范围：30nm至600μm ；

2. 孔隙体积测试范围：0.3-3.5cc ；

3. 测量精度：≤ 0.5% ;

4. 分析站：1个独立样品分析站，样品室*体积15cc ；

5. 工作压力范围：0.01-50Mpa，采用双路压力测量技术 ；

6. 试验压力：60Mpa ；

7. 静压力头: ≤20mmHg ；

8. 空白值: 50Mpa时约0.25ml ；

9. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 ；

10. 真空泵：双极机械真空泵，极限真空度0.05Pa ；

11. 分析模型：累计总孔体积、累计比表面积、平均孔径、孔径分布（孔隙度）曲线、孔喉比、注汞/退汞曲线等等；

12. 样品类型：固体颗粒样品或块状固体样品；

三、产品特点：

GCGY200型压汞仪主要由真空系统样品室系统、加压系统、测量控制系统四部分组成。

1. 真空系统：主要是由一台双级泵和真空传感器组成，极限真空度为 0.05Pa；

2. 样品室系统：耐高压、耐真空，空白值小，测量精度高，稳定性强。利用重力差原理，在正压环境下进行压力测量技术，方便、适用，保证了整个试验的连续性、稳定性、可靠性和完整性。

3. 加压系统：可为测试过程提供0-50Mpa（7250psi）压力，可无级调速控制泵速度的快慢及加退压。

4. 测量控制系统：由压力测量、电容测量、真空测量三部分组成。压力测量由两路压力变送器和数字压力表来完成压力的计量。电容测量是由电容仪电容变送器和数字显示器来完成。真空测量是由真空硅利用热偶原理实现对样品室内真空度的测量。

5. 具有严格的汞安全防护措施，有效避免汞蒸气对室内环境的影响 。

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适用于卷绕电容器介质用薄膜或对方法1来说更薄的薄膜。高阻计:可测电阻10”Q及以上；电容测试仪:可测试样电容为0.5F左右的仪器s卷制机:能卷绕模型电容器，对薄膜可施加2.5N±0.5N的卷绕张力。试样为卷在硬绝缘管芯上的模型电容器元件,采用铝箔突出型结构，介质为单层被试薄膜，模型电容器元件如图5所示。—薄膜。在被试薄膜卷上分切60mm〜80mm宽的薄膜卷两卷。将厚度约为7的退火铝箔分切成60mm〜80mm宽的铝箔卷两卷。然后将它们安装在卷制机上，并调好它们之间的相对位置。在绝缘硬管芯上卷绕元件（绝缘硬管芯的外径约为20mm,内径以与卷制机收卷轴配合适宜为准，绝缘硬管芯的绝缘电阻应大于1013C）,试样数量为三个。

将元件两边突出的铝箔电极分别接到高阻计的高压端和测试端，测量试样的电阻值，其中测量电压为100V±10V,电化时间为2min。用工频（或音频）电桥或电容仪测量试样的电容值C。C—工频（或音频）下的试样的电容值，单位为皮法（pF）；R——试样电阻测量值，单位为欧姆（。P.——试样体积电阻率,单位为欧姆米（Q•m）；取三个试样的体积电阻率的中值作为试验结果，取两位有效数字。覆盖频率范围为50Hz至100MHz,并推荐三种试验方法，有争议时采用不接触电极法。试验应按GB/T进行，除非产品标准中另有规定，试验频率由供需双方商定，在低频和对厚的薄膜，通常在由一层薄膜组成的试样上进行测量。然而，已发现在频率高于1MHz,对非常薄的薄膜,釆用多层的薄膜测量更合适、更准确。

新款全自动压汞法测定仪

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