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新款GEST系列半导电材料电阻率测定仪

新款GEST系列半导电材料电阻率测定仪

型    号: GEST-125A
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新款GEST系列半导电材料电阻率测定仪用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻

GEST-125A新款GEST系列半导电材料电阻率测定仪的详细资料:

半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品名称:半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品型号:GEST-125

满足标准:

GB_T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分:半导电橡塑材料体积电阻率试验

GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法

GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法

GB/T2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定

产品概述:

半导电橡塑电阻测试仪主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻,也可使用四端子测试夹,对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源,测量结果采用LED数字直接显示,分为3个窗口:电压显示窗口,材料厚度显示窗口(用户根据实测输入),电阻率显示窗口。

    仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和*标准的要求。

仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门,对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测,是必需的测试设备。

 仪器主要技术指标:

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 数字电压表:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

1、电极材质:测试电极-黄铜,支架-不锈钢

2、电极与试样接触宽度:5mm

3、电极与试样接触压力:0.6N

五、试样要求:

1、试样宽度:(10±0.2)mm; 长度:(70-150)mm;推荐厚度:(3-4)mm,试样任何一点的厚度余平均值的差不得大于5%。

2、试样数量:3个

六、电源要求:

1、220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

 

半导电橡塑材料电阻测试架

本测试架有以下特点:

1、  技术性能完全符合国标GB3048.3要求,具有标准尺寸的电流电极、电压电极,及加压系统,样品盒绝缘强度大于1012Ω。

2、   技术*工作可靠,工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱,可以从0~180°C连续长期工作,为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化,提供了有力保障。

3、 操作简单,使用方便,寿命长。

 

 

 

则电阻(内)电流也将包括保护电路的电流,这就可能无法校正。这些论述同样适用于上述第二种情况的电阻Rm。AChCh的增量。在50kHz到50MHz的频率范围内能方便地设计这种网络,这种网络也容易有效地屏蔽。但其缺点是平衡随频率的变化太灵敏,以致于电源频率的谐波很不平衡。为了能拓宽频率范围,必须改变或换接电桥元件,在较高频率下接线和开关阻抗(若使用开关时)会引入很大的误差。谐振法或Q表法是在10kHz到260MHz的频率范围内使用。它的原理是基于在一个谐振电路中感应一个已知的弱小电压时,测量在该电路出现的电压。图A.8表示这种电路的常用形式,在线路中通过一个共用电阻R将谐振电路耦合到振荡器上,也可用其他的耦合方法。

操作程序是在规定的频率下将输入电压或电流调节到一个已知值,然后调节谐振电路达到大谐振,观察此时的电压U八然后将试样接到相应的接线端上,再调节可变电容器使电路重新谐振,观察新的电压S的值。在接入试样并重新调节线路时,只要见图A.8)其总电容几乎保持不变。试样电容近似于△G即是可变电容器电容的变化量。G——电路中的总电容,包括电压表以及电感线圈本身的电容;Q】、Q°——分别为有无试样联接时的Q值。测量误差主要来自两台指示器的标定刻度以及在连线中尤其是在可变电容器和试样的连线中所引入的阻抗。对于高的损耗因数值的条件可能不成立,图1所示的测微计电极系统是哈特逊(Hartshorn)改进的,被用于消除在高频下因接线和测量电容器的串联电感和串联电阻对测量值产生的误差。

在这样的系统中,是由于在测微电极中使用了一个与试样连接的同轴回路,不管试样在不在电路中,电路中的电感和电阻总是相对地保持恒定。夹在两电极之间的试样,其尺寸与电极尺寸相同或小于电极尺寸,除非试样表面和电极表面磨得很平整,否则在试样放到电极系统里之前,必须在试样上贴一片金属箔或类似的电极材料。在试样抽出后,调节测微计电极,使电极系统得到同样的电容。按电容变化仔细校正测微计电极系统后,使用时则不需要校正边缘电容、对地电容和接线电容。其缺点是电容校正没有常规的可变多层平板电容器那么精密且同样不能直接读数。在低于1MHz的频率下,可忽略接线的串联电感和电阻的影响,测微计电极的电容校正可用与测微计电极系统并联的一个标准电容器的电容来校正

 

 

 

 

新款GEST系列半导电材料电阻率测定仪

新款GEST系列半导电材料电阻率测定仪