新款GEST系列半导体电阻率测定仪

半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品名称：半导电橡塑材料体积电阻率试验仪

产品型号：GEST-125

满足标准：

GB_T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分：半导电橡塑材料体积电阻率试验

GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法

GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法

GB/T2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定

产品概述：

半导电橡塑电阻测试仪主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻，也可使用四端子测试夹，对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源，测量结果采用LED数字直接显示，分为3个窗口：电压显示窗口，材料厚度显示窗口（用户根据实测输入），电阻率显示窗口。

    仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，*符合和*标准的要求。

仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门，对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测，是必需的测试设备。

 仪器主要技术指标：

一、 测量范围：

测量半导电电阻率时： 电阻率10^-4--10⁵Ω-cm；分辩率10^-6Ω-cm

                      测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10^-4--2X10⁵Ω，分辨率1uΩ

二、 数字电压表：

1．  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3．  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。

三、 恒流源：

1．  电流输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．

2.    电流误差：±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极：

1、电极材质：测试电极-黄铜，支架-不锈钢

2、电极与试样接触宽度：5mm

3、电极与试样接触压力：0.6N

五、试样要求：

1、试样宽度：（10±0.2）mm; 长度：（70-150）mm;推荐厚度：（3-4）mm,试样任何一点的厚度余平均值的差不得大于5%。

2、试样数量：3个

六、电源要求：

1、220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

半导电橡塑材料电阻测试架

本测试架有以下特点：

1、  技术性能*符合国标GB3048.3要求，具有标准尺寸的电流电极、电压电极，及加压系统，样品盒绝缘强度大于10¹²Ω。

2、   技术*工作可靠，工作温度范围大采用高强度高绝缘耐温材料制成放入烘箱，可以从0~180°C连续长期工作，为研究高分子材料在90~120°C乃至180°C高温条件的电阻率变化，提供了有力保障。

3、 操作简单，使用方便，寿命长。

切削齿的形状能将试样切削出图3所示的试样缺口形状,切削齿的剖面应与其主轴成直角。缺口的形状应定期检査。6.1.5.2如果受试材料有规定，可使用模塑缺口试样,测试结果同机加工缺口试样结果不可比。缺口的形状应定期检査。某些板材随板材方向的不同，可能具有不同的冲击性能。对于这种板材应按平行和垂直某一特征方向分别切取一组试样。板材的特征方向可目视观察或由生产方法推断。试样尺寸见表1。需要时，使用可对称地将试样的长度减至63.5mm。a如果试样是由板材或制品上裁取的，板材或制品的厚度方应该加到命名中。未增强的试样不应使机加工表面处于拉伸状态进行试验。按表1的规定及图3所示,试样应使用一种类型的缺口，缺口应处于试样的中间。

*的缺口类型是A型，如果要获得材料缺口敏感性的信息,应试验A型和B型缺口的试样。6.3.3板材，推荐的厚度h为4mm,如果试样是从板材或构件上切取的，其厚度应与板材或构件的原厚相同,至多不超过10.2mm。当板材的厚度均匀，并且只含有一种规则分布的增强料,当其厚度大于10.2mm时,则从板材一面机加工到10.2mm士0.2mm.试验无缺口试样,为了避免表面的影响，试验中应使试样原始表面处于拉伸状态。试验时冲击试样的侧面，冲击方向平行于板平面,只是在五=6=10mm时，才可平行或垂直于板面进行试验（见图1）。6.4.1除受试材料标准另有规定,一组试样应为10个。当变异系数（见ISO1980）小于5%时,测试5个试样即可。

6.4.2如果在垂直和平行方向试验层压材料，则每个方向应试验10个试样。除非受试材料标准另有规定，试验应按GB/T2918—1998在23P和50%相对湿度下至少状态调节16h,或按有关各方协商的条件。缺口试样应在缺口加工后计算状态调节时间。7.1除有关方面同意采用别的条件，如在高温或低温下试验外，都应在与状态调节相同的环境中进行试验。7.2测量每个试样中部的厚度h和宽度b或缺口试样的剩余宽度。n,精确至0.02mm。试样是注塑时，不必测量每一个试样尺寸。只要确保是表1所列出的尺寸，由于未获得实验室间的数据，本试验方法的精密度尚不知。当获得实验室间数据时,在以后的修订中会加上精密度的说明。试验报告应包括下列内容:a)标明采用本标准

新款GEST系列半导体电阻率测定仪

新款GEST系列半导体电阻率测定仪