双极板低阻测试测量仪

双极板低阻测试测量仪除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外,取样前，除非产品标准或本部分中个别试验另有规定外,试验应在温度23°C±2C、相对湿度50%±5%、环境洁净度不大于10000级的条件下进行。厚度应按产品标准要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。根据ISO1993,用精密千分尺或立式光学计或其他仪器测量单张试样的厚度。薄膜厚度小于100jum时,用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm〜50mm的球面测帽。测量压力为0.5N〜1N。薄膜厚度大于或等于100jum时，可用千分尺测量。薄膜厚度小于15/xm时，精度不低于0.2卩m；薄膜厚度大于或等于15mm但小于100时。

精度不低于1卩m；薄膜厚度大于或等于100/zm时，精度不低于2卩m。沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜（当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条），试样不应有皱折或其他缺陷。按ISO1993的要求，测量试样的厚度。在试样上等距离共测量27点，两测量点间距不少于50mm。对未切边的膜卷,测量点应离薄膜边缘50mm,对已切边的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。取27个测量值的中值作为试验结果，并报告大值和小值。薄膜叠层试样的数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成。其制备方法如下:从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取，并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板（推荐尺寸为：250mmX200mm,其中200mm为板的长度方向尺寸）。

双极板低阻测试测量仪在测量之前去掉叠层的外层和内层（实际测量十层），再进行#!量。叠层试样测量厚度除以10,得到单层薄膜厚度，取其平均值作为试验结果，并报告大值和小值。4.2.1原理:按ISO1991中的第1部分，根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度。分析天平感量。在薄膜卷上取三片长方形试样，每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积，用分析天平测量试样质量。按本部分第5章规定测量试样的密度。h——试样的厚度，m——试样的质量，s——试样的面积，单位为平方厘米（cm。d——试样的实测密度,单位为克每立方厘米（g/cn?）。取三个计算值的中值作为试验结果，结果取三位有效数字。用于评定成卷供货的薄膜的变形情况