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2019新款高低频介电常数测试仪
| 型 号： | GCSTD-D |
| 报 价： | 48888 |
2019新款高低频介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的（恒久电介质）的交流损耗特性和介电常数的测试方法
GCSTD-D2019新款高低频介电常数测试仪的详细资料：
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
三、性能特点
■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进
■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ 高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
四、简要介绍
测试材料：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
五、随机配置
1、主机：1台
2、测试电极：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
六 、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 |
| 20 Hz～2MHz,10mHz步进 |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
| L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ～ 9.9999F |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
| D | 0.0001 ～ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ～ 99999 |
| θ | -179.99°～ 179.99° |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
七、主机图
八、测试界面：
九、试验报告
材料介电性能试验测控系统试验报告(非接触法) | |||||
序号 | 频率 | 介电常数 | 介质损耗 | 试样厚度(mm) | 电极直径(mm) |
1 | 1KKHZ | 4.38E+00 | 3.78E-03 | 3.00E+00 | 50 |
2 | 1KKHZ | 4.38E+00 | 3.78E-03 | 3.00E+00 | 50 |
3 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
4 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
5 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
6 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
7 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
8 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
9 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
10 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
11 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
12 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
13 | 1KKHZ | 4.47E+00 | 3.94E-03 | 3.00E+00 | 50 |
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