销售咨询热线:
13581986832
  • 晶圆非接触法电阻率测量仪

    晶圆非接触法电阻率测量仪主要通过四探针法测试单晶硅电阻率,具有自动定位的三坐标自动测量系统,可以自由设置测量点数量,自动测试完成,可以对测试出的数据进行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。

    更新时间:2021-05-21

    厂商性质:其他

    查看详细介绍
  • 晶圆非接触法电阻率测定仪

    晶圆非接触法电阻率测定仪主要通过四探针法测试单晶硅电阻率,具有自动定位的三坐标自动测量系统,可以自由设置测量点数量,自动测试完成,可以对测试出的数据进行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。

    更新时间:2021-05-21

    厂商性质:其他

    查看详细介绍
  • 晶圆非接触法电阻率测试仪

    晶圆非接触法电阻率测试仪主要通过四探针法测试单晶硅电阻率,具有自动定位的三坐标自动测量系统,可以自由设置测量点数量,自动测试完成,可以对测试出的数据进行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。

    更新时间:2021-05-21

    厂商性质:其他

    查看详细介绍
  • 非接触法晶圆电阻率成像测量仪

    非接触法晶圆电阻率成像测量仪主要通过四探针法测试单晶硅电阻率,具有自动定位的三坐标自动测量系统,可以自由设置测量点数量,自动测试完成,可以对测试出的数据进行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。

    更新时间:2021-05-21

    厂商性质:其他

    查看详细介绍
  • 非接触法晶圆电阻率成像测试仪

    非接触法晶圆电阻率成像测试仪主要通过四探针法测试单晶硅电阻率,具有自动定位的三坐标自动测量系统,可以自由设置测量点数量,自动测试完成,可以对测试出的数据进行2D成像,是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。

    更新时间:2021-05-21

    厂商性质:其他

    查看详细介绍
共 27 条记录,当前 1 / 6 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页